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Points Clés
- Support de montage de test de carte mère Qianli pour iPhone 14, 13, 12, 11, X
- Testeur de fonction morte radio pour la couche intermédiaire de la carte mère
- Qualité stricte, emballage complet, prix avantageux et livraison rapide
Description du Produit
【Nouveau】Support de montage de test de carte mère Qianli pour IPhone 14/13/12/11/X Testeur de fonction radiofréquence de couche intermédiaire de la carte mère
Un magasin d’outils de réparation de téléphones portables haut de gamme en provenance de Chine. Les produits sont construits en utilisant le meilleur savoir-faire et sont entretenus avec la technologie la plus avancée. Veuillez faire confiance à la qualité du magasin RAOOOT. Parce qu’il s’agit d’un nouveau produit, le volume des ventes est relativement faible, mais la qualité est la meilleure.
Avis Clients
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Avis Expert
Après avoir examiné le support de montage de test de carte mère Qianli pour iPhone 14, 13, 12, 11, X, nous pouvons conclure que c’est un produit de haute qualité avec une construction solide et une technologie avancée. Le support permet de tester les fonctions mortes de la radiofréquence de la carte mère, ce qui est essentiel pour les réparations de téléphones portables. De plus, la couche intermédiaire de la carte mère peut également être testée avec ce support.
Le prix du support est avantageux par rapport à la qualité offerte. De plus, le vendeur propose un emballage complet et une livraison rapide. Cependant, étant donné que le produit est relativement nouveau sur le marché, le volume des ventes est limité et il n’y a pas encore d’avis clients disponibles.
FAQ
Quel iPhone est compatible avec ce support de montage de test de carte mère Qianli ?
Ce support est compatible avec les iPhone 14, 13, 12, 11 et X.
Peut-on tester la fonction radiofréquence de la carte mère avec ce support ?
Oui, ce support est conçu pour tester la fonction radiofréquence de la carte mère.
Peut-on utiliser ce support pour tester la couche intermédiaire de la carte mère ?
Oui, ce support permet également de tester la couche intermédiaire de la carte mère.
